Mikrochips ohne Makel – Wie man Fehler in Halbleitern findet

Veröffentlicht am 12.09.2022

Mikrochips ohne Makel – Wie man Fehler in Halbleitern findet

Das CISPA-Startup Lubis EDA hat ein neuartiges Software-Tool entwickelt, das Unternehmen bei der Qualitätskontrolle von Halbleitern unterstützt. Das Tool wurde speziell für die Verifikation von digitalen integrierten Schaltkreisen entwickelt, die in vielen Mikrochips enthalten sind. Das Unternehmen konzentriert sich dabei auf funktionale Fehler, die zu Fehlfunktionen des Halbleiters führen können. Diese Fehler können nicht nur zu Problemen bei der Nutzung des Geräts führen, sondern auch Sicherheitsrisiken darstellen. Besonders kritisch ist dies bei Steuerungssystemen wie zum Beispiel Bremsen.

Die Verifikation von Mikrochips nimmt einen großen Teil der Entwicklungszeit in Anspruch und stellt oft einen Engpass dar. Ohne eine gründliche Verifikation riskieren Unternehmen hohe Verluste, da Mikrochips in großen Chargen bestellt werden. Wenn ein Fehler entdeckt wird, müssen oft alle Chips dieser Charge verworfen werden. In einigen Fällen kann dies sogar zu Rückrufaktionen von bereits verkauften Produkten führen.

Im Gegensatz zur simulationsbasierten Technik ermöglicht die formale Verifikationstechnik zuverlässige Aussagen über die Funktionsfähigkeit eines Halbleiters. LUBIS EDA sucht mithilfe dieser Technik im Code nach mathematisch logischen Fehlern und Lücken. Das Startup sieht eine hohe Nachfrage nach dieser Art der Verifikation und bietet sogar Schulungen zum “Formal Verification Expert” an.

LUBIS EDA erhofft sich am CISPA-Inkubator wertvolles Feedback von Experten sowie Fördermöglichkeiten im IT-Sicherheitsbereich. Das Unternehmen möchte sich zudem mit anderen Startups vernetzen, da es durch die Pandemie bisher keinen Austausch mit anderen Gründern hatte.

👉 Hier geht’s zum Originalartikel auf cispa.de

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